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 Titán analítico (Low‐base): FEI TITAN Low‐base Los microscopios Titan (FEI Company) incorporan un corrector de aberración esférica (CEOS Company). En el caso del Titán analítico o Low‐base incorpora el corrector en la lente condensadora, la que forma la sonda incidente sobre la muestra. Por ello es ideal para hacer imagen de alta resolución en modo barrido‐transmisión (HRSTEM) y mapas de composición química con resolución atómica por espectroscopia de pérdida de energía de electrón (STEM‐EELS). Este microscopio incorpora también un monocromador y un cañón de emisión de campo de alto brillo (XFEG), lo que le hace especialmente interesante para estudio de propiedades ópticas por espectroscopia EELS de baja energía y estudio de estados de oxidación analizando la estructura fina de los umbrales de absorción de los espectros EELS. Al poder trabajar a bajo voltaje (60 kV, 80 kV) el corrector permite obtener alta resolución incluso en materiales muy sensibles al haz de electrones tales como grafeno, nanotubos de carbono o de hetero‐átomos, zeolitas y materiales mesoporosos, etc. Los voltajes de trabajo de este equipo son: 60, 80, 120, 200 y 300 kV. Los investigadores de centros públicos o privados así como los profesionales del mundo industrial que requieran el uso de este equipo dispondrán también, si así lo requieren, del apoyo científico y técnico de nuestro personal altamente cualificado y experimentado. ¿Qué información podemos obtener con este equipo?
Imagen (resolución 0,09 nm):  Información sobre la composición de la muestra: imagen en modo barrido‐
transmisión con detector anular de alto ángulo de alta resolución: HRSTEM. El contraste de la imagen depende directamente del número atómico. La imagen filtrada en energía (EFTEM) proporciona información sobre un elemento concreto.  Reconstrucción tridimensional (3D) de la imagen: tomografía electrónica. Análisis químico:  Espectroscopias de Rayos X (EDX) y de pérdida de Energía de Electrón (EELS).  Mapas y perfiles de composición con resolución atómica en modo barrido‐
transmisión (STEM), composición química con resolución espacial. Análisis de campos:  Estudio de campo magnético y eléctrico mediante holografía magnética. 
 Estudio de dominios magnéticos: microscopía Lorentz.  Estudio de campos tensión /deformación mediante análisis de imágenes de alta resolución. Medidas “in‐situ”:  Cambios de fase cristalina (difracción de electrones).  Estructura de defectos por imagen campo claro/oscuro (BF/DF) y haz débil (WBDF). Especificaciones técnicas
El Titan analítico Low‐base trabaja tanto en modo TEM como STEM a voltajes comprendidos entre los 60 y los 300 kV. Al trabajar a bajo voltaje es especialmente indicado para analizar materiales sensibles al haz de electrones. Está equipado con un cañón de emisión de campo de alto brillo XFEG, un monocromador y una cámara Gatan 2k x 2k para adquisición de imágenes de alta resolución. Las principales técnicas de trabajo son: HRSTEM: La principal aplicación de este microscopio es la obtención de imágenes con resolución atómica en modo STEM. Para ello está equipado con un corrector CESCOR (CEOS Company) que permite la formación de una fina sonda de unos 0,09 nm. Está equipado con detectores de campo claro (BF), campo oscuro (DF) y anular de alto ángulo (HAADF). EELS & EDS: El Titan analítico tiene un monocromador y un filtro de energía Gatan Tridiem 866 para la obtención de espectros de pérdida de energía de electrón (EELS) e imagen con filtro de energía (EFTEM). La resolución en energía de los espectros EELS monocromados es de 0,14 eV. Combinado con el modo STEM pueden obtenerse mapas y perfiles de composición química con resolución atómica. Además, el detector EDAX permite hacer espectroscopia de Rayos X (EDS) en modo STEM. Microscopía Lorentz y Holografía: el Titan Low‐base equipado con una lente Lorentz y un biprisma electrostático para hacer análisis de materiales magnéticos. Tomografía: estte microscopio consta de un módulo de tomografía y unn portamue
estras dediccado de Fisschione ((+//‐ 70°) para hacer reconstruccione
es 3D de im
mágenes tan
nto en modo TEM com
mo en modo STEM. Imáágenes
(a) Z-conntrast images along a partiicular planar defect of a YB
BCO nanocom
mposite. (b) exxx deformation
n map
showingg in colors (redd and green) different
d
deforrmation valuees.
Ref.: Apppl. Phys. Lett.. 102, 081906
6 (2013)
doi:10.11063/1.47937449
a) Ball-annd-stick modeel, shown in peerspective, off the Cd-loaded
d zeolite A. Cd
d in violet, O in red, and Sii and Al
in blue. bb) Cs-correcteed STEM imag
ge of a CdA. T
The FFT inset was indexed assuming
a
Pm33m
Ref.: J. P
Phys. Chem. C,
C 2013, 117 (4
46), pp 24485––24489
http://pubbs.acs.org/doii/abs/10.1021//jp409171q