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R
Tecnología de prueba del zócalo
Intel®
para el zócalo LGA775
Código de producto JM8HKZLVA
Noviembre de 2004
Número de documento: 303334-002
Introducción
R
El término “Producto de Intel”, como se utiliza en este documento, se define como la tecnología de prueba del zócalo Intel®, para el zócalo
LGA775, código de producto JM8HKZLVA
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se desvíe de las especificaciones publicadas. Las erratas descritas actuales están disponibles a solicitud.
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Las copias de los documentos que tienen un número de orden y a los que se hace referencia en este documento, u otra literatura de Intel,
pueden obtenerse al llamar al teléfono 1-800-548-4725 o al visitar la página www.intel.com.
Los mapas de cobertura de bola, las pruebas y las clasificaciones se miden usando sistemas y/o componentes de computación específicos y
reflejan el desempeño aproximado de los productos de Intel según lo miden tales pruebas. Cualquier diferencia en el hardware del sistema
o el diseño o la configuración del software (programa de cómputo), puede afectar el desempeño real. Los compradores deben consultar
otras fuentes de información para evaluar el desempeño de los sistemas o los componentes que están considerando adquirir. Para más
información acerca de las pruebas de desempeño y del desempeño de los productos de Intel, llame a (EUA) 1-800-628-8686 ó 1-916-3563104 o vaya a http://developer.intel.com.
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concede ninguna licencia, expresa o implícita, por impedimento o de alguna otra manera, de cualquier patente, marca registrada, derecho de
autor u otro derecho de propiedad intelectual.
Intel no está obligada a proporcionar ningún soporte, instalación u otra asistencia con respecto a estos dispositivos o esta información.
1 La tecnología Hyper-Threading requiere un sistema informático con un procesador Intel® Pentium® 4 compatible con la tecnología HT, al
igual que un chipset, un BIOS y un sistema operativo habilitados para la tecnología HT. El desempeño varía según el hardware y software
específicos que utilice. Consulte www.intel.com/homepage/land/hyperthreading_more.htm si desea más información.
∆ El número de procesador Intel no es una medida del rendimiento. El número de procesador hace diferencia entre las características de
una familia de procesadores y no a través de distintas familias de procesadores. Consulte http:\\www.intel.com/products/processor_number
si desea más detalles.
Intel y Pentium son marcas comerciales o marcas comerciales registradas de Intel Corporation y sus subsidiarias en los Estados Unidos de
América y otros países.
*Otros nombres y marcas podrían ser reclamados como propiedad de terceros.
Copyright © 2004, Intel Corporation
2
Introducción
R
Contenido
1
Introducción ............................................................................................... 7
1.1
Terminología ................................................................................... 7
1.2
Documentos de referencia .............................................................. 8
2
Teoría ........................................................................................................ 9
3
Prueba con alimentación mediante vectores digitales (ICT) .................... 11
3.1
Uso de señales de identificación del voltaje (VID)......................... 11
3.2
Uso de las señales de control ....................................................... 11
3.3
Uso de cargas de cabezal de prueba............................................ 13
4
Prueba sin alimentación (MDA) ............................................................... 15
5
Especificaciones pertinentes ................................................................... 17
6
Uso de bola.............................................................................................. 19
3
Introducción
R
Figuras
Figura 1 - Tecnología de prueba del zócalo Intel® para el zócalo
LGA775—Chip de prueba ........................................................ 7
Figura 2 - Tecnología de prueba del zócalo Intel® para el zócalo
LGA775—Diagrama de bloques ............................................. 10
Figura 3 - Configuración típica de un par de conmutadores .................... 15
Figura 4 - Configuración de instrumentos para el conmutador del lado
bajo.......................................................................................... 16
Figura 5 - Configuración de instrumentos para el conmutador del lado
alto.......................................................................................... 16
Figura 6 - Mapa de cobertura de bola optimizada ................................... 26
Tablas
Tabla 1 - Señales de identificación del voltaje ......................................... 11
Tabla 2 - Señales de control .................................................................... 12
Tabla 3 - Tabla de ejemplo ...................................................................... 13
Tabla 4 - Parámetros de operación eléctrica ........................................... 17
Tabla 5 - Condición de prueba para el conmutador del lado alto (digital
con alimentación)...................................................................... 17
Tabla 6 - Condición de prueba para el conmutador del lado bajo (digital
con alimentación)...................................................................... 18
Tabla 7 - Condición de prueba para el conmutador (análogo sin
alimentación) ............................................................................ 18
Tabla 8 - Bolas utilizadas como señales de control ................................. 19
Tabla 9 - Grupos y funciones de bolas .................................................... 19
Tabla 10 - Resistor de 0 ohm .................................................................. 24
Tabla 11 - Medidas de 1K ohm................................................................ 24
Tabla 12 - Medidas de 1K ohm................................................................ 24
Tabla 13 - Medidas de 1K ohm................................................................ 25
4
Introducción
R
Historial de revisión
Número de
revisión
Descripción
Fecha de revisión
-001
Revisión inicial.
Octubre de 2004
-002
Tabla 1, tabla 3
Noviembre de 2004
§
5
Introducción
R
6
Introducción
R
1
Introducción
La Tecnología de prueba del zócalo Intel® para el zócalo LGA775 es un chip de prueba que
permite probar la integridad mecánica y la continuidad eléctrica tanto de la conectividad de la
bola de soldadura del zócalo a la placa, como de la conectividad del contacto del zócalo a la CPU.
Una vez insertado en el zócalo LGA775 de la placa, el chip de prueba funciona con cualquiera de
los comprobadores en circuito (ICT) o los analizadores de defectos de fábrica (MDA) que tienen
acceso a todas las redes del zócalo a través del sondeo del montaje de prueba.
Los ICT utilizan vectores digitales de prueba que se ejecutan rápidamente cuando se aplica
alimentación a la placa, lo cual toma por lo general un par de milisegundos según la capacidad del
cabezal de prueba. Los MDA no aplican alimentación a la placa, ya que utilizan su capacidad de
medición análoga. Normalmente, toma más tiempo la prueba con MDA.
Figura 1 - Tecnología de prueba del zócalo Intel® para el zócalo LGA775—
Chip de prueba
1.1
Terminología
Término
Descripción
ICT
Prueba en circuito
Zócalo LGA775
Zócalo de montaje en superficie diseñado para admitir el procesador Intel
®
Pentium 4 en el encapsulado LGA de recubrimiento 775
MDA
Analizador de defectos de fábrica
VCCP
Voltaje central del procesador
VTT
Voltaje de terminación de E/S para el bus frontal
®
7
Introducción
R
1.2
Documentos de referencia
Document
Ubicación del documento
®
®
http://www.intel.com/design/Pentium4/d
atashts/302350.htm
Hoja de datos del procesador Intel Pentium 4 560, 550, 540,
530 y 520∆ en el proceso de 90 nm y el encapsulado LGA de
1
recubrimiento 775 compatible con la tecnología Hyper-Threading
®
®
http://www.intel.com/design/pentium4/da
tashts/302351.htm
Guía del diseño del zócalo LGA775 de desktop para la regulación
del voltaje (VRD) 10.1
http://www.intel.com/design/Pentium4/g
uides/302356.htm
Hoja de datos del procesador Intel Pentium 4 Extreme Edition
en el proceso de 0,13 micras y el encapsulado de recubrimiento
775
§
8
Teoría
R
2
Teoría
El chip de prueba del zócalo LGA775 con Tecnología de prueba del zócalo Intel® consiste de una
matriz de pares de conmutadores. Cada par de conmutadores, junto con una señal de control, se
puede utilizar para probar una señal, una conexión de alimentación y una de tierra. La señal de
control permite la condición de ACTIVADO o DESACTIVADO en cada conmutador. La
prueba se realiza al verificar la condición de ACTIVADO y DESACTIVADO de cada
conmutador. Existen menos señales que conexiones de zócalo eléctrico de alimentación y tierra.
Para compensar, existen cuatro pares de señales de Hcontrol y Lcontrol que permiten la
multiplexión de señales entre las conexiones de zócalo eléctrico de alimentación y tierra. La
multiplexión de la señal permite probar la mayor cantidad de conexiones de alimentación y tierra
posible. La prueba de los resistores que se encuentran en el chip de prueba ayuda a proporcionar
una mayor cobertura abierta no ofrecida por los pares de conmutadores.
Las señales de control se llevan a tierra con un resistor que conserva los conmutadores en el
estado DESACTIVADO cuando se utiliza un método de prueba con alimentación en un ICT.
9
Teoría
R
Figura 2 - Tecnología de prueba del zócalo Intel® para el zócalo LGA775—
Diagrama de bloques
10
Prueba con alimentación mediante vectores digitales (ICT)
R
3
Prueba con alimentación
mediante vectores digitales (ICT)
3.1
Uso de señales de identificación del voltaje (VID)
VCCP y VTT se utilizan para proveer alimentación al chip de prueba. El chip de prueba no
brinda control sobre las señales VID para establecer un voltaje VCPP al insertarse en un zócalo.
Debe conectarse a tierra una combinación de señales VID y ésta debe ser controlada por el equipo
de prueba de tal modo que se genere un VCPP en la placa que equivalga al voltaje VTT de la
placa.
Para determinar qué líneas VID deben utilizarse para que VCPP sea equivalente a VTT, consulte
la Guía de diseño para la regulación del voltaje (VRD) correspondiente al procesador que utiliza.
Las guías de diseño están disponibles en el sitio web para desarrolladores Intel® en
http://www.intel.com/design/Pentium4/documentation.htm.
Tabla 1 - Señales de identificación del voltaje
3.2
Nombre de la señal
Bola VID
VID_0
AM2
VID_1
AL5
VID_2
AM3
VID_3
AL6
VID_4
AK4
VID_5
AL4
Uso de las señales de control
Para asegurarse de que los conmutadores se coloquen en el estado DESACTIVADO al aplicar la
alimentación o al probar otros dispositivos, las señales de control se llevan a tierra con resistores
de 1KΩ. Cada señal de control puede colocar un grupo de aproximadamente 64 conmutadores en
los estados ACTIVADO y DESACTIVADO.
Cada par de conmutadores ACTIVADOS o DESACTIVADOS prueba tres bolas de soldadura
de zócalo y contactos de zócalo, sin incluir las señales de control. Un nivel lógico alto de la señal
de control coloca el conmutador asociado en el estado ACTIVADO.
Se utilizan cuatro pares de entradas de Hcontrol y Lcontrol para multiplexar las señales recibidas
por el equipo de prueba a través de más de un par de conmutadores a fin de probar la mayoría de
las conexiones de zócalo eléctrico de alimentación y tierra.
Precaución: En ningún momento la señal de control de los conmutadores del lado alto y del
lado bajo se deben colocar en un valor alto al mismo tiempo, como sucede con algunas
11
Prueba con alimentación mediante vectores digitales (ICT)
R
herramientas de inyección de fallo automatizadas. De hacerlo, se produce un corto directo entre
las conexiones de alimentación y tierra, el cual podría dañar el chip de prueba del zócalo Intel® y
la placa bajo prueba. Para evitar el daño, coloque solamente una señal de control en un valor alto
y todas las demás en valores bajos, en cualquier momento durante la prueba.
El conmutador del lado alto de cada par de conmutadores se utiliza para probar un contacto y una
bola de soldadura VCPP, junto con el contacto y la bola de soldadura compartidos del par de
conmutadores del lado alto y del lado bajo. La línea de control del controlador del lado alto se
coloca en un valor alto lógico, lo cual coloca el conmutador en ACTIVADO y permite la
conexión eléctrica entre VCPP y la señal compartida. Cuando esto sucede, se recibe un valor
lógico alto en la señal compartida. Al mismo tiempo, la señal de control del conmutador del lado
bajo tendrá un valor lógico bajo.
El conmutador del lado bajo de cada par de conmutadores se utiliza para probar un contacto y una
bola de soldadura GND, junto con el contacto y la bola de soldadura compartidos del par de
conmutadores del lado alto y del lado bajo. La línea de control del controlador del lado bajo se
coloca en un valor alto lógico, lo cual coloca el conmutador en ACTIVADO y permite la
conexión eléctrica entre GND y la señal compartida. Se recibe un valor lógico bajo en la señal
compartida. Al mismo tiempo, la señal de control del conmutador del lado alto tendrá un valor
lógico bajo.
Se utiliza una señal compartida para probar una conexión VCPP y una GND. La falta de la
transición de señal alta y baja indica una abertura ya sea en la señal compartida o en la conexión
de alimentación o tierra utilizada por dicho par de conmutadores.
La figura 2 muestra que tanto Signal1, Vccp1 y Gnd1, al igual que Signal2, Vccp2 y Gnd2 se
pueden verificar a través del Hcontrol0 y del Lcontrol0.
Tabla 2 - Señales de control
Nombre de la señal
Bola de señal
Hcontrol_0
U2
Lcontrol_0
J16
Hcontrol_1
U3
Lcontrol_1
H15
Hcontrol_2
E7
Lcontrol_2
H16
Hcontrol_3
F6
Lcontrol_3
J17
Al igual que con todas las pruebas digitales en circuito con alimentación, todos los demás
componentes activos de la placa que están conectados al zócalo deben colocarse en un modo de
tres estados antes de realizar pruebas con esta técnica.
12
Prueba con alimentación mediante vectores digitales (ICT)
R
3.3
Uso de cargas de cabezal de prueba
Las cargas (altas y bajas) de cabezal de prueba mejoran la detección de aberturas. Con el par de
conmutadores DESACTIVADO, las señales se colocan en un nivel lógico bajo si se utilizan
cargas bajas de cabezal de prueba y en un nivel lógico alto si se utilizan cargas altas de cabezal de
prueba. Al utilizar cargas altas con el conmutador del lado bajo ACTIVADO se recibe un nivel
lógico alto en la señal si la señal o la conexión GND están abiertas y un nivel lógico bajo si no lo
están. Al utilizar cargas bajas con el conmutador del lado alto ACTIVADO se recibe un nivel
lógico bajo en la señal si la señal o la conexión GND están abiertas y un nivel lógico alto si no lo
están. Nota: Deben tomarse en consideración los resistores de carga alta y baja incorporados si
se utilizan cargas de cabezal de prueba.
Tabla 3 - Tabla de ejemplo
Control de
lado bajo
Control del
lado alto
Señal
Carga de
cabezal de
prueba
0
0
0
Carga baja
0
0
1
Carga alta
1
0
0
Carga alta
0
1
1
Carga baja
1
1
N/A
§
13
Prueba con alimentación mediante vectores digitales (ICT)
R
14
Prueba sin alimentación (MDA)
R
4
Prueba sin alimentación (MDA)
El método de prueba siguiente se desarrolló con un comprobador en circuito Agilent* 3070 Series
II en un modo sin alimentación. La técnica y los resultados deben ser similares si se utiliza
equipo de prueba con capacidades similar a las descritas a continuación. Tenga en cuenta que
Agilent era conocida anteriormente como Hewlett Packard* –HP.
Bus
Descripción
Bus S
Origen primario. Proporciona de -10,0V a +10,0V (VCC) al conectar el lado
alto al dispositivo bajo prueba (DUT) mediante una resistencia serie de 500
ohm. El lado bajo se conecta automáticamente al GND análogo digital y
conmutado.
Bus A
Origen auxiliar. Proporciona de -10,0V a +10,0V (VCC) al conectar el lado alto
al DUT y el lado bajo automáticamente al GND análogo digital y conmutado.
Bus I
El lado alto de un voltímetro de CC conectado al DUT.
Bus L
El lado bajo de un voltímetro de CC conectado al GND análogo digital y
conmutado a menos que se especifique lo contrario en el software.
Bus G
Bus vigilante. Se utiliza para romper rutas de impedancia paralela. En este
caso, conecta VCCP y GND para mantenerlos al mismo potencial.
El típico par de conmutadores de Tecnología de prueba del zócalo Intel® se muestra en la figura 2,
donde se utiliza el bus G para crear un corto circuito entre VCCP y GND, lo cual tiene la
posibilidad de eliminar el tiempo de carga y descarga causado por la alta capacitancia presente en
la placa cuando se prueba el conmutador del lado alto. Lo que se intenta es que la prueba total sea
lo más rápida y fiable posible.
Figura 3 - Configuración típica de un par de conmutadores
Cada conmutador se prueba mediante la conexión del bus A al Hcontrol o al Lcontrol, los buses S
e I a la señal y el bus L a GND. El bus A se establece en 1,2V para garantizar la activación
positiva del conmutador. El bus S se establece en 600mV para el conmutador de los lados alto y
bajo. El bus S utiliza una resistencia serie de 500 ohm tanto para el conmutador del lado alto
como el del lado bajo.
15
Prueba sin alimentación (MDA)
R
La resistencia del conmutador equivale aproximadamente a 40 ohm en el estado ACTIVADO y
es infinita en el estado DESACTIVADO. En un entorno aislado, el voltaje del estado
ACTIVADO medido en la señal será de aproximadamente 44mV debido a que existe un divisor
de voltaje entre la resistencia de 40 ohm del conmutador y la resistencia de 500 ohm de la
terminación del origen.
Se ha observado que el voltaje del estado DESACTIVADO no llega al nivel de 600mV previsto
por la teoría de circuitos. Esto se debe a la influencia de otros dispositivos incorporados que
ocasionan que el nivel se establezca en aproximadamente 250mV.
Figura 4 - Configuración de instrumentos para el conmutador del lado bajo
Figura 5 - Configuración de instrumentos para el conmutador del lado alto
§
16
Especificaciones pertinentes
R
5
Especificaciones pertinentes
Temperatura de operación: Entre 10° y 50° C
Entorno de descarga electrostática (ESD): Controlado hasta menos de 300 voltios
Tabla 4 - Parámetros de operación eléctrica
Símbolo
Parámetro
Valor
Unidades
0,8 a 1,2 máximo
V
300
mv
Vccp
Voltaje aplicado (con alimentación)
CtrlOnThres
Umbral de activación de conmutador
HctrlEnVih
VIH de activación de conmutador alto (con alimentación)
Vccp + 0,3
máximo
V
LctrlEnVih
VIH de activación de conmutador bajo (con alimentación)
Vccp a Vccp +
0.3 máximo
V
CtrlDisVil
VIL de desactivación de controlador
0.0
V
CtrlEnVih
Voltaje de activación de controlador (sin alimentación)
1,2 máximo
V
Sd(on)
Retraso de activación de control de conmutador a
señal de salida (con alimentación)
20
us
Sd(off)
Retraso de desactivación de control de conmutador
a señal de salida (con alimentación)
20
us
Rval
Valores de resistor (sin alimentación)
1K(+-5%)
ohm
Hid(on)
Corriente de saturación de activación de conmutador alto
20
ma
Lid(on)
Corriente de saturación de activación de conmutador alto
26
ma
Tabla 5 - Condición de prueba para el conmutador del lado alto (digital con
alimentación)
Símbolo
Parámetro
Valor
Unidades
Vccp
Voltaje aplicado
1,2 máximo
V
Hcontrol
Activación del conmutador del lado alto
1,5 máximo
V
Lcontrol
Desactivación del conmutador del lado bajo
0.0
V
Signal
VOH mínimo
600
mv
Signal Load
Origen de corriente de señal a tierra (carga baja)
5
ma
Signal VohTh
Prueba del ajuste del umbral VOH
400
mv
Signal VolTh
Prueba del ajuste del umbral VOL
400
mv
17
Especificaciones pertinentes
R
Tabla 6 - Condición de prueba para el conmutador del lado bajo (digital con
alimentación)
Símbolo
Parámetro
Valor
Unidades
1,2 máximo
V
0.0
V
1,2 máximo
V
200
mv
2
ma
Vccp
Voltaje aplicado
Hcontrol
Activación del conmutador del lado alto
Lcontrol
Desactivación del conmutador del lado bajo
Signal
VOL máximo
Signal Load
Origen de corriente de señal a Vccp (carga alta)
Signal VohTh
Prueba del ajuste del umbral VOH
400
mv
Signal VolTh
Prueba del ajuste del umbral VOL
400
mv
Tabla 7 - Condición de prueba para el conmutador (análogo sin alimentación)
Símbolo
Parámetro
VccpToGnd
Vccp conectado a Gnd
HctrlEn
Activación del conmutador del lado alto
HctrlDis
Desactivación del conmutador del lado alto
LctrlEn
Activación del conmutador del lado bajo
LctrlDis
Desactivación del conmutador del lado bajo
SigSrcVolt
Voltaje de origen aplicado a la señal
SigSrcVR
Resistencia de voltaje de origen aplicado a la señal
§
18
Valor
Unidades
0.0
V
1,2 máximo
V
0.0
V
1,2 máximo
V
0.0
V
600 máximo
mv
500
ohm
Uso de bola
R
6
Uso de bola
La tabla 8 identifica las bolas utilizadas por las 8 líneas de control, también conocidas como
Lcontrol_0 – Lcontrol_3 y Hcontrol_0 – Hcontrol_3.
Tabla 8 - Bolas utilizadas como señales de control
Control del lado bajo
(Lcontrol)
Control del lado alto
(Hcontrol)
J16
H15
H16
J17
U2
U3
E7
F6
La tabla 9 muestra la relación entre la bola de los controles de los lados alto y bajo y la bola de
señal, la bola de tierra y la bola de alimentación de cada par de conmutadores. Esta tabla puede
utilizarse para generar pruebas y diagnosticar los fallos de las pruebas.
Tabla 9 - Grupos y funciones de bolas
Control del
lado bajo
Control del
lado alto
Señal
GND
VCCP
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
G16
G17
F15
G15
G14
F17
E15
F14
G18
E16
E18
F18
E13
G13
D17
D13
E19
G19
E12
D19
G12
F12
F11
G11
G20
D11
D20
F20
E10
C20
F21
D10
H27
L30
AE24
H26
H24
H25
AF30
H23
H21
H22
AF29
H19
E28
H20
AF28
E29
D24
E26
AF27
E25
A24
C24
AF26
B24
D21
F22
E20
A21
AF25
B20
C19
F19
T27
T28
T29
T26
T24
T23
T30
U30
U29
U28
N23
N24
U27
N25
N26
N27
N29
N28
M23
N30
M25
M24
M27
M26
M29
M28
K23
M30
K25
K24
K27
K26
19
Uso de bola
R
20
Control del
lado bajo
Control del
lado alto
Señal
GND
VCCP
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
J16
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U2
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
G22
G21
C18
B19
C15
C17
C12
C14
B9
C11
F9
E9
E21
G9
B21
C21
B16
B18
B12
B15
A19
B10
A16
A17
A11
A14
A8
A10
F8
G8
C8
D8
U6
R6
P6
T5
U5
V5
U4
T4
R4
V4
M4
M5
M6
W5
W6
P3
M3
L4
L5
Y4
Y6
P2
N2
L2
K3
K4
K6
AJ30
D18
B17
A18
C16
F16
A15
D15
C13
E14
F13
B14
D12
A12
E11
B11
D9
C10
B8
A9
C7
F10
A6
D6
F4
B5
D3
C4
A2
E2
G1
B1
Y7
AA6
AA3
W7
Y5
Y2
AE17
AN17
W4
V7
V6
V3
AJ20
AG23
U7
AH23
T6
T7
AH20
AJ23
R2
AK23
AG20
AK24
P7
R7
P4
K29
K28
J30
K30
J28
J29
J26
J27
J24
J25
J22
J23
J20
J21
J18
J19
C27
C25
C30
C29
B26
B25
B28
B27
B30
B29
A26
A25
A28
A27
A30
A29
V8
AH19
W8
AJ19
Y8
AK19
AH22
AG22
AA8
AL19
AB8
AM19
AF22
AE21
AC8
AE22
AG19
U8
AN21
AN22
AF19
AE23
AE19
AK25
P8
T8
R8
Uso de bola
R
Control del
lado bajo
Control del
lado alto
Señal
GND
VCCP
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H15
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
U3
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
AA4
AA5
AB4
AB5
AB6
J5
J6
AC5
AD5
AD6
G5
F5
L1
K1
F2
E3
E4
AF4
AF5
D2
D4
C1
C2
C3
C5
C6
B2
G7
B3
B6
B4
A4
A3
D7
A5
A7
B7
U6
R6
P6
T5
U5
V5
U4
T4
R4
V4
M4
M5
M6
W5
W6
P3
M3
L4
L5
Y4
Y6
P2
AJ24
N6
N3
AF20
AH24
N7
AG24
M7
M1
AE20
AF24
L3
AL24
L7
L6
AL20
AL23
K2
AM24
K5
K7
AM23
AN24
H3
J4
AM20
J7
AN23
AN20
H6
H7
H8
AF23
H10
H9
H12
H11
AN17
AB1
AN16
AA7
AC3
AB7
AC7
AC6
AM17
AM16
AD4
AD7
AL17
AE2
AE16
AF3
AE7
AE5
AF7
AF6
AH1
AG7
AJ25
N8
AM21
AM22
AH25
AL22
AG25
L8
M8
AF21
AJ26
AG21
AK26
J10
K8
AH21
AL25
AJ21
AL26
J11
AJ22
AN25
AM26
AK21
J12
AM25
J13
AL21
AN26
AK22
AG26
J15
AG27
AH27
J14
J9
J8
AN14
V8
Y8
W8
AB8
AA8
AL8
AC8
AD8
AN15
AN9
AM9
AM15
AL9
AN11
AJ9
AE9
AK9
AL11
AM11
AF11
AK11
21
Uso de bola
R
22
Control del
lado bajo
Control del
lado alto
Señal
GND
VCCP
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
H16
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
E7
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
N2
L2
K3
K4
K6
AA4
AA5
AB4
AB5
AB6
J5
J6
AC5
AD5
AD6
G5
F5
L1
K1
F2
E3
E4
AF4
AF5
D2
D4
C1
C2
C3
G7
C5
C6
B2
B3
B4
B6
A3
A4
A5
AG4
AG5
AG6
G16
G17
F15
G15
G14
F17
E15
F14
G18
E16
E18
F18
E13
G13
D17
D13
E19
AG17
AF17
AH3
AH6
AH17
AH7
AJ4
AJ7
AL16
AK2
AL3
AK7
AK17
AJ17
AE10
AL7
AF10
AG10
AK16
AH10
AL10
AJ10
AF16
AK10
AM1
AM7
AG16
AN1
AH16
AM10
AN2
AN10
AJ16
AN13
AK13
AM13
AE13
AL13
AG13
AJ13
AF13
AH13
L28
L29
L26
L27
L24
L25
P30
L23
P28
P29
P26
P27
P24
P25
R30
P23
R29
AG11
AM14
AJ11
AH11
AL15
AE11
AM12
AN12
AK12
AL12
AH12
AJ12
AF12
AL14
AE12
AG12
AJ14
AH14
AK14
AG14
AE18
AF14
AH18
AF18
AJ18
AG18
AE15
AH19
AK19
AL19
AJ19
AL18
AK15
AM19
AN19
AM18
AJ15
AN18
AG15
AE14
AF15
AH15
T28
T27
T26
T29
T23
T24
U30
T30
U28
U29
N24
N23
N25
U27
N27
U24
N26
Uso de bola
R
Control del
lado bajo
Control del
lado alto
Señal
GND
VCCP
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
J17
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
F6
G19
E12
D19
G12
F12
F11
G11
G20
D11
D20
F20
E10
C20
F21
D10
C17
G22
C15
C18
C14
G21
C12
B19
B9
C11
F9
E9
E21
G9
B21
C21
B16
B18
B12
B15
A19
B10
A16
A17
A11
A14
A8
A10
D22
E22
A22
B22
AJ27
R27
R28
R26
V29
R24
V30
R25
R23
V27
AK30
V26
V28
V23
V24
AA29
AA30
AA27
AA28
AA25
AA26
AA23
AA24
AB29
AB30
AB27
AB28
AB26
AB25
AK29
AJ29
AK28
AJ28
AM28
AL28
AB23
AB24
AE29
AE30
AE27
AE28
AE25
AE26
AL27
AN28
AN27
AM27
AD30
U26
AD29
W30
W28
U23
W27
U25
W29
W23
W24
W25
W26
Y30
AC23
AC24
Y29
Y27
Y28
Y26
AC25
Y25
Y23
Y24
AC26
AC27
AD27
AD28
AD25
AH29
AG29
AH28
AG28
AM29
AL29
AD26
AC28
AD24
AC30
AD23
AG30
AH30
AC29
AL30
AN29
AN30
AM30
Los resistores de 0 ohm del chip de prueba indicados en la tabla 10, pueden utilizarse para generar
pruebas que detecten la resistencia de 0 ohm entre los dos puntos, lo cual agrega más cobertura de
prueba abierta.
23
Uso de bola
R
Tabla 10 - Resistor de 0 ohm
Bola en corto
Bola en corto
J1
AA1
AN4
AN6
AN3
AN5
F29
H29
E7
F6
D25
D26
AM4
AN7
AN8
AM8
D28
H28
E23
F23
El chip de prueba tiene señales VID_0-VID_5 que se llevan a VCPP con los resistores de 1KΩ.
Las conexiones eléctricas del zócalo se pueden probar al medir los resistores entre las conexiones
eléctricas respectivas. La tabla siguiente se puede utilizar para generar pruebas que detecten la
resistencia de 1KΩ entre los dos puntos, lo cual agrega más cobertura de prueba abierta.
Tabla 11 - Medidas de 1K ohm
Bola VID
Bola de alimentación
AM2
AL5
AM3
AL6
AK4
AL4
AJ8
AG9
AH8
AF8
AF9
AG8
Se puede utilizar cada resistor de carga baja para verificar la conectividad de una bola de tierra y
una bola de señal de control. La tabla siguiente se puede utilizar para generar pruebas que
detecten la resistencia de 1KΩ entre los dos puntos, lo cual agrega más cobertura de prueba
abierta.
Tabla 12 - Medidas de 1K ohm
Bola de resistor de
control
Bola
GND
U2
U3
E7
F6
J16
H15
H16
J17
U1
T3
E8
F7
H13
H14
H17
H18
La tabla siguiente se puede utilizar para generar pruebas que detecten la resistencia de
1KΩ entre los dos puntos, lo cual agrega más cobertura de prueba abierta.
24
Uso de bola
R
Tabla 13 - Medidas de 1K ohm
Bola de
resistor
Bola de
resistor
AJ1
AD2
AG2
AJ3
AD1
AF1
AE1
R3
F28
F3
A13
B23
AL1
G2
H1
AC2
N4
AC4
AH4
AJ5
AB3
H4
AM5
AJ2
AF2
AG3
AK3
AC1
AB2
AG1
Y1
G28
G23
T1
C22
AK1
R1
AL2
AE8
P5
AE4
AH5
AJ6
AD3
M2
AH9
25
Uso de bola
R
Figura 6 - Mapa de cobertura de bola optimizada
§
26