Download pliego de prescripciones tecnicas para el suministro e

PLIEGO DE PRESCRIPCIONES TECNICAS PARA EL SUMINISTRO E
INSTALACION DE UN MICROSCOPIO KERR DESTINADO AL CENTRO DE
INVESTIGACIÓN EN NANOMATERIALES Y NANOTECNOLOGÍA (CINN),
CENTRO MIXTO (CSIC, UNIVERSIDAD DE OVIEDO, PRINCIPADO DE
ASTURIAS)
1. OBJETO DEL PLIEGO:
El objeto del presente pliego es definir las características técnicas y funcionales de
un Microscopio Kerr. Esta técnica es imprescindible para complementar las
actualmente existentes en varios grupos de investigación del CINN (adscritos en
particular a las sublíneas primera y segunda), cuyo objetivo es el estudio
experimental, y la modelización, de los efectos de las anisotropías y del
acoplamiento magnético en láminas delgadas, multicapas y nanoestructuras, así
como en el estudio del anclaje (pinning) de paredes magnéticas en defectos con
potencial asimétrico (efecto Rachet), estos últimos, realizados mediante técnicas de
litografía ( UV y de haz de electrones). El microscopio Kerr de alta resolución viene
a cubrir el hueco actualmente existente entre nuestras técnicas de medida de
propiedades magnéticas macroscópicas (magnetometría, efecto Kerr Transversal
macroscópico, etc.) y las de escala nanométrica ( MFM, MO-SNOM). Con dicho
equipo se puede obtener información de la estructura magnética local en la escala
de las micras, lo que, conjuntamente con nuestras modelizaciones micromagnéticas,
nos permitirá obtener información acerca de la magnitud de las anisotropías
magnéticas ( en el plano y perpendicular) y de las interacciones magnéticas en
multicapas ( Exchange-bias, etc.), así como de los mecanismos de anclaje de
paredes magnéticas en redes de defectos; sumando a todo lo anterior el estudio de
su evolución térmica.
Código CPA: 26.51.61
Código CPV: 38515100-9
2. PRECIO DE LICITACION:
El precio máximo de licitación, incluidos IVA e impuestos, será de 193.391,62 Euros,
Importe sin IVA…….. 166.716,91 €
Importe de IVA…….. 26.674,71 €
3. PLAZO DE EJECUCIÓN:
El plazo máximo para la ejecución del presente contrato será de 6 meses
PLIEGO 74/10. MICROSCOPIO KERR. CENTRO DE INVESTIGACIÓN EN NANOMATERIALES Y
NANOTECNOLOGÍA
1/6
C/ Serrano 117
28006 Madrid
España
Tel. 91.585.50.00
Fax: 91.411.30.77
[email protected]
4. LUGAR DE ENTREGA E INSTALACION:
Centro de Investigación en Nanomateriales y Nanotecnología.
Parque Tecnológico de Asturias,
33428-Llanera (Asturias)
5. PARTES Y COMPONENTES DEL SUMINISTRO:
5.1 Microscopio Polarizador de reflexión ( polarizador, analizador y compensador),
con ángulo de incidencia variable que permita la determinación de las tres
componentes locales de la imanación ( las dos del plano y la perpendicular),
mediante la utilización de los efectos Kerr Longitudinal ( dos configuraciones) y
Kerr Polar. Campo de visión: desde varios milímetros hasta el límite de la
resolución óptica.
5.2 Termostato/criostato óptico que permita la variación de la temperatura de la
muestra entre 10K y 800K.
5.3 Campos aplicados variables y rotatorios (360º) en el plano. Intensidad máxima:
1T. Resolución del orden de 0,01 mT
5.4 Cámara CCD de alta resolución y procesador de imágenes que permita la
homogeneización de brillo, la sustracción de imágenes en tiempo real y la
visualización de su evolución bajo campos o temperatura.
5.5 Ordenador, pantalla y teclado
5.6 Manuales
5.7 Curso de formación en el manejo del equipo realizados en el Centro de
Investigación en Nanotecnología y Nanomateriales (CINN).
6. ESPECIFICACIONES TÉCNICAS DEL SUMINISTRO:
6.1 Microscopio óptico de polarización adaptado para Efectos Kerr Longitudinal y
Polar
6.1.1 Microscopio polarizador con estativo sobre plataforma de granito
6.1.2 Objetivos estándar 20x,50x y 100x (inmersión)
6.1.3 Dispositivo con ángulo de incidencia variable para elegir entre incidencias
normal y oblicua respecto al eje del microscopio, con objeto de poder elegir
entre configuraciones Kerr Longitudinal (determinación de las
componentes de la imanación en el plano de la muestra según dos
direcciones ortogonales) y Kerr Polar (determinación de la componente de
la imanación perpendicular a dicho plano).
6.1.4 Campo de visión: desde varios milímetros hasta el límite de la resolución
óptica.
6.1.5 Polarizador, analizador y compensador de la elipticidad Kerr
6.1.6 Zoom óptico 1x-4x
PLIEGO 74/10. MICROSCOPIO KERR. CENTRO DE INVESTIGACIÓN EN NANOMATERIALES Y
NANOTECNOLOGÍA
2/6
C/ Serrano 117
28006 Madrid
España
Tel. 91.585.50.00
Fax: 91.411.30.77
[email protected]
6.1.7 Sistema de lentes correctoras de iluminación para conseguir la máxima
homogeneidad en el contraste magneto-óptico con todos los objetivos.
6.1.8 Tubo binocular y posibilidad de intercambiar fácilmente entre la
observación mediante oculares y cámara CCD
6.1.9 Carrusel de filtros ( hasta 4 filtros)
6.1.10 Lámpara de Xenon de gran estabilidad con la posibilidad de alineación
manual y filtro de calor
6.1.11 Pletina para muestras de hasta 30 mm de diámetro con desplazamiento
XY (de al menos ±14 mm) y giro en el plano (360º). Aislada
mecánicamente de la plataforma del electroimán. Giro del electroimán
(360º) independiente del giro de la muestra.
6.2 Termostato/criostato óptico que permita la variación de la temperatura de la
muestra entre 10K y 800K
6.2.1
6.2.2
6.2.3
6.2.4
6.2.5
6.2.6
6.2.7
6.2.8
Criostato y termostato ópticos que cubran el rango de temperaturas de la
muestra entre 10K y 800K
Muestra en atmósfera de vacío
Bomba turbomolecular y dispositivo que mantenga la muestra aislada de
vibraciones
Portamuestras que permita diámetros de hasta 10mm
Objetivos con larga distancia de trabajo de 20x y 63x
Diseño del criostato y del electroimán que permita aplicar campos en el
plano de hasta 0.3T
Regulador electrónico de temperatura
Caña de transferencia para helio líquido de doble pared, con sus válvulas
correspondientes y control de flujo de He.
6.3 Campos aplicados variables y rotatorios (360º) en el plano de la muestra.
6.3.1
6.3.2
6.3.3
6.3.4
6.3.5
Electroimán sobre plataforma aislada mecánicamente de la que soporta el
microscopio
Posibilidad de giro (360º) para aplicar campos magnéticos en cualquier
dirección dentro del plano de la muestra.
Campo aplicado en el plano de hasta 1T (sin criostato) y de hasta 0.3T
(con criostato)
Fuente de alimentación para el electroimán con control por software y
manual
Posibili8dad de aplicar campos DC (bipolar) y AC ( de 0.1 a 500Hz),con
resolución de 0.01 mT
6.4 Cámara CCD de alta resolución y Software (procesador de imágenes)
6.4.1
6.4.2
Cámara CCD de bajo ruido controlable por software
Resolución del orden de 1344x1024
PLIEGO 74/10. MICROSCOPIO KERR. CENTRO DE INVESTIGACIÓN EN NANOMATERIALES Y
NANOTECNOLOGÍA
3/6
C/ Serrano 117
28006 Madrid
España
Tel. 91.585.50.00
Fax: 91.411.30.77
[email protected]
6.4.3
6.4.4
6.4.5
6.4.6
6.4.7
Función anti-saturación
Rango dinámico de 2100:1
Montura C para adaptar al microscopio
Procesador de imágenes que incluya al menos funciones de
homogeneización de brillo de imagen, substracción de imágenes en
tiempo real, promediado de imagen, grabación de imágenes y realización
de secuencias.
Posibilidad de obtener los ciclos de histéresis correspondientes a la
componente de la imanación en el plano de la muestra mediante el efecto
Kerr
6.5 Ordenador, pantalla y teclado
6.5.1
6.5.2
Ordenador basado en microprocesador con capacidad suficiente, de alto
rendimiento, que soporte el software de tratamiento de imágenes a tiempo
real, el control de la fuente de alimentación del campo aplicado y el
termostato/criostato.
Monitor LCD
6.6 Manuales completos de todo el equipamiento, incluyendo los del microscopio
Kerr, Criostato y producción de campos magnéticos.
6.7 Curso de formación: La oferta que resulte adjudicataria impartirá un curso de
entrenamiento y formación mínimo de tres días, en las instalaciones del centro,
que permita el máximo aprovechamiento del equipo tras su instalación.
7. OTRAS CONDICIONES:
Cumplimiento de las obligaciones empresariales que establece la Ley de Prevención
de Riesgos Laborales, así como la normativa y reglamentación que le sea de
aplicación en su caso vr. Gratia (Norma Básica de Edificación NBE-CPI-96, RD
1836/1999 Reglamento sobre Instalaciones Nucleares y Radiactivas, RD 783/2001
Reglamento sobre protección sanitaria contra radiaciones ionizantes, Reglamento
Lugares de Trabajo, etc.) así como evitar o reducir en lo máximo posible, y siempre
dentro de la legalidad, cualquier impacto ambiental (y dentro de él la generación de
residuos) que el desarrollo del trabajo o actividad, objeto del contrato, pudiera
generar.
Las empresas oferentes indicarán de forma clara todo aquello, de los equipos que
ofertan, que suponga una mejora a lo solicitado en este pliego técnico.
8. GARANTÍA:
Garantía mínima de 2 años a todo riesgo.
PLIEGO 74/10. MICROSCOPIO KERR. CENTRO DE INVESTIGACIÓN EN NANOMATERIALES Y
NANOTECNOLOGÍA
4/6
C/ Serrano 117
28006 Madrid
España
Tel. 91.585.50.00
Fax: 91.411.30.77
[email protected]
Se valorará la ampliación de plazo de garantía o periodos de mantenimiento a todo
riesgo gratuitos. Tanto la garantía como los periodos de mantenimiento ofertados,
serán sobre el equipo completo. Garantías condicionadas no se considerarán.
9.
9.1.
ASISTENCIA TÉCNICA:
Cuando el licitador no incluya en su oferta el documento correspondiente a la
asistencia técnica posterior al periodo de garantía, que se indica en el Anexo
5, apartado 2, del Pliego de Cláusulas Administrativas Particulares que rige
para este procedimiento, o el coste indicado en la oferta no permita una
valoración objetiva, se aplicarán en la valoración de la oferta y posterior
exigencia al adjudicatario; los siguientes costes y tiempos:
Coste hombre/hora: 150 €/h.
Coste de desplazamiento: 150 €.
Tiempo de respuesta: 1 día.
Tiempo de entrega de repuestos: 3 días.
9.2.
El adjudicatario prestará asistencia técnica para la reparación y, en su caso,
mantenimiento del suministro durante el periodo de garantía del contrato.
Asimismo, se compromete a prestar asistencia técnica y proporcionar
piezas de recambio del material ofertado durante los cinco años posteriores
a la terminación del plazo de garantía.
El lugar desde el que se prestará la asistencia técnica, salvo que en la oferta
se indique lo contrario, será desde la misma ciudad en que se entrega este
suministro.
10. PUESTA A PUNTO E INSTALACIÓN:
El equipo o sistema se suministrará completo, incluyendo todos aquellos elementos
necesarios para su correcta instalación, puesta a punto y funcionamiento.
11. FORMA DE PAGO:
El pago se hará efectivo en un único plazo, una vez recibida y facturada la totalidad
del suministro. La factura deberá incluir todas las menciones legalmente obligatorias.
Los plazos previstos en el artículo 200 de la LCSP se computarán a partir de la
entrega por el contratista de la respectiva factura y debidamente recepcionado el
objeto del contrato.
12. DOCUMENTACIÓN TÉCNICA:
PLIEGO 74/10. MICROSCOPIO KERR. CENTRO DE INVESTIGACIÓN EN NANOMATERIALES Y
NANOTECNOLOGÍA
5/6
C/ Serrano 117
28006 Madrid
España
Tel. 91.585.50.00
Fax: 91.411.30.77
[email protected]
La documentación Técnica se presentará en la forma exigida en el Pliego de
Cláusulas Administrativas Particulares y debidamente firmada por el representante
de la empresa.
En el sobre de documentación técnica, además de las dos copias solicitadas, se
incluirá una copia de dicha documentación en CD. Los ficheros tendrán el
formato PDF ó WORD. La inclusión de este CD, no exime de la entrega de la
documentación tal como requiere el Pliego de Cláusulas Administrativas
Particulares.
PLIEGO 74/10. MICROSCOPIO KERR. CENTRO DE INVESTIGACIÓN EN NANOMATERIALES Y
NANOTECNOLOGÍA
6/6
C/ Serrano 117
28006 Madrid
España
Tel. 91.585.50.00
Fax: 91.411.30.77
[email protected]