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MINISTERIO DE EDUCACIÓN Y CIENCIA CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS PLIEGO DE CLAUSULAS TÉCNICAS PARA EL SUMINISTRO E INSTALACIÓN DE UN SISTEMA DE DETECCIÓN Y ANÁLISIS DE ELECTRONES DIFRACTADOS (EBSD) PARA UN MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO CON DESTINO AL INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE ARAGÓN 1. OBJETIVO DEL PLIEGO: El objeto del presente pliego es definir las características técnicas y funcionales de sistema de detección y análisis de electrones difractados (EBSD) que quiere adquirir el ICMA para instalar en un microscopio electrónico de barrido. Código CPA: 33.20.53 2. PRECIO DE LICITACIÓN: El precio máximo de licitación, incluidos IVA e impuestos, será de 100.000,00 Euros. 3. PLAZO DE ENTREGA E INSTALACIÓN: Plazo máximo de entrega, instalación y puesta a punto será hasta el 15 de diciembre de 2006. 4. LUGAR DE ENTREGA: Instituto de Ciencia de Materiales de Aragón Centro Politécnico Superior María de Luna, 3 50018 Zaragoza 5. PARTES Y COMPONENTES DEL EQUIPO: 5.1. Detector de electrones retrodispersados-difractados (Electron BackScattering Diffraction) mediante cámara CCD. 5.2. Detector para la obtención de imágenes mediante electrones dispersados (forescatter) integrado en el detector 5.1. 5.3. Sistema PC de control de los detectores y análisis de datos. Todos estos componentes tienen que ser compatibles y funcionales en el microscopio electrónico de barrido Jeol 6400 dotado de sistema de adquisición digital de imágenes y microanálisis por rayos X INCA300 del Servicio de Microscopia Electrónica de la Universidad de Zaragoza. 5.4. Manuales. PLIEGO 620/06 SISTEMA DE DETECCION Y ANALISIS DE ELECTRONES DIFRACTADOS. INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE ARAGON. 1/4 C/ Serrano 117 28006 Madrid España Tel. 91.585.50.00 Fax: 91.411.30.77 MINISTERIO DE EDUCACIÓN Y CIENCIA CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS 5.5. Curso de Formación. 6. ESPECIFICACIONES TÉCNICAS DEL SUMINISTRO: Prescripciones generales El objeto del contrato será el suministro e instalación de un detector de electrones retrodispersados-difractados. El equipo debe ser plenamente funcional en el microscopio electrónico de barrido Jeol 6400 dotado de sistema de adquisición digital de imágenes y microanálisis por rayos X INCA300 del Servicio de Microscopia Electrónica de la Universidad de Zaragoza. Las imágenes obtenidas por los detectores 5.1 y 5.2 no deben verse afectadas por sombras originadas por ningún tipo de elemento del microscopio. 6.1. Detector de electrones retrodispersados-difractados. Detector con cámara CCD con de mínimo 12 bit de digitalización. Sistema de inserción y des-inserción motorizado. Resolución de los diagramas: 1344 x 1024 pixel o mayor. Alarma para prevención de colisiones. Ángulo de captura ajustable entre, al menos, 15º a 130º sin necesidad de reenfoque. Cristal de silicio para calibración del detector. 6.2. Detector para la obtención de imágenes mediante electrones dispersados. Detector integrado en el detector 5.1 para la obtención de imágenes de electrones retrodispersados en las mismas condiciones de geometría que los diagramas de difracción. Amplificador de señal externo. No debe afectar al detector de electrones retodispersados del microscopio. 6.3. Sistema de control de los detectores y análisis de datos Basado en sistema informático tipo PC. Pantalla plana de mínimo 17” Control externo del microscopio de barrido que incluya: haz de electrones imágenes digitales detector de rayos X porta-muestras motorizado. Software de análisis que incluya: Indexación automática de los diagramas de difracción Análisis interactivo de desorientaciones (formato ángulo/eje). Obtención de distribuciones de desorientación. PLIEGO 620/06 SISTEMA DE DETECCION Y ANALISIS DE ELECTRONES DIFRACTADOS. INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE ARAGON. 2/4 C/ Serrano 117 28006 Madrid España Tel. 91.585.50.00 Fax: 91.411.30.77 MINISTERIO DE EDUCACIÓN Y CIENCIA CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS Construcción de Figuras de Polos y de Figuras de Polos Inversas. Construcción de imágenes por orientaciones su análisis estadístico. Cálculo de funciones de distribución de la orientación. Identificación de fases cristalográficas. 6.4 Manuales de operación y mantenimiento Se incluiran los manuales de servicio o técnico, de mantenimiento y de usuario. 6.5 Formación, instalación y transporte La empresa que resulte adjudicataria impartirá un curso de entrenamiento en español a operadores del equipo, por parte de personal especializado, de al menos tres dias de duracion, de forma que permita el maximo aprovechamiento de dicho equipo. 7. OTRAS CONDICIONES: Cumplimiento de las obligaciones empresariales que establece la Ley de Prevención de Riesgos Laborales, así como la normativa y reglamentación que le sea de aplicación en su caso vr. Gratia (Norma Básica de Edificación NBECPI-96, RD 1836/1999 Reglamento sobre instalaciones nucleares y radiactivas, RD 783/2001 Reglamento sobre protección sanitaria contra radiaciones ionizantes, Reglamento Lugares de Trabajo, etc.) así como evitar o reducir en lo máximo posible, y siempre dentro de la legalidad, cualquier impacto ambiental (y dentro de él la generación de residuos) que el desarrollo del trabajo o actividad, objeto del contrato, pudiera generar. 8. GARANTÍA: La garantía del presente suministro será de 2 años Se valorará la ampliación del plazo de garantía o periodos de mantenimiento a todo riesgo gratuitos. 9. PUESTA A PUNTO E INSTALACIÓN: El precio comprenderá todos los costes de la entrega, instalación de todo el equipamiento solicitado así como del material necesario para llevar acabo la integración con el microscopio existente y permitir su correcto funcionamiento. Al finalizar la entrega e instalación se verificará el funcionamiento del equipamiento solicitado así como su compatibilidad funcional con el microscopio Jeol 6400 y sistema INCA300. Finalizada la instalación se procederá a un cursillo de entrenamiento por parte de personal especializado de la empresa suministradora de al menos dos días. PLIEGO 620/06 SISTEMA DE DETECCION Y ANALISIS DE ELECTRONES DIFRACTADOS. INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE ARAGON. 3/4 C/ Serrano 117 28006 Madrid España Tel. 91.585.50.00 Fax: 91.411.30.77 MINISTERIO DE EDUCACIÓN Y CIENCIA CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS 10. FORMA DE PAGO: El pago se hará efectivo en un único plazo, una vez recibida y facturada la totalidad del suministro. La factura deberá incluir todas las menciones legalmente obligatorias. Los plazos previstos en el articulo 99 del TRLCAP se computarán a partir de la entrega por el contratista de la respectiva factura y debidamente recepcionado el objeto del contrato. 11. DOCUMENTACION TECNICA: La documentación técnica se presentará en la forma exigida en el Pliego de Cláusulas Administrativas Particulares y debidamente firmada por el representante de la empresa. En el sobre de documentación técnica, se incluirá una copia de dicha documentación en CD. Los ficheros tendrán el formato PDF o WORD. La inclusión de este CD no exime de la entrega de a documentación tal como requiere el Plieg PLIEGO 620/06 SISTEMA DE DETECCION Y ANALISIS DE ELECTRONES DIFRACTADOS. INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE ARAGON. 4/4 C/ Serrano 117 28006 Madrid España Tel. 91.585.50.00 Fax: 91.411.30.77